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번호

Type

Registration No.

Date

Title
19

특허

10-2869805-00-00

2025.10.01

결함 검사 장치 및 그 방법
18

특허

10-2842748-00-00

2025.07.31

금형 검사 장치 및 그 방법
17

특허

10-2791629-00-00

2025.04.01

프로브 그립핑 모듈 및 그를 이용한 프로브 본딩 방법
16

상표

40-2323448-00-00

2025.02.28

FinBOX
15

상표

40-2323450-00-00

2025.02.28

AIVI
14

특허

10-2621609-00-00

2024.01.02

프로브 핀 본딩 방법, 프로브 핀 본딩 유니트 및 듀얼 타입 프로브 핀 본딩 장치
13

특허

10-2646278-00-00

2024.03.06

다품종 소량생산에 적용가능한 무인검사 장치 및 이를 이용한 비전검사 방법
12

특허

10-2228081-00-00

2021.03.09

인쇄물 검사 시스템 및 인쇄물 검사 방법
11

특허

10-2254322-00-00

2021.05.14

광 간섭 시스템
10

디자인

30-1070539-00-00

2020.08.10

인쇄 품질검사기
9

특허

10-2069647-00-00

2020.01.17

광 간섭 시스템
8

상표

40-1591415-00-00

2020.03.31

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